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软盘驱动器的性能指标主要有()。
平均访问时间包括平均寻道时间和平均等待时间。道对道的访问时间主要是指磁头在两个相邻磁道之间变化的时间。道密度是磁道的密集程度,一般磁盘容量越大,磁道越密集。出错率是指在使用或访问信息的时候,出现错误代码的错误率。
图示结构,各杆EI=常数,不计轴向变形,MBA及MCD的状况为: