测量介质损耗因数 ，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（ ）

• A.整体受潮
• B.整体劣化
• C.小体积试品的局部缺陷整体受潮
• D.大体积试品的局部缺陷

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答案： D

本题解析： 暂无解析

更新时间：2021-11-07 19:11

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